GB/T 2423.21-2008 是中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn),其完整名稱為 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓》。該標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際標(biāo)準(zhǔn) IEC 60068-2-13:1983,并替代了舊版的 GB/T 2423.21-1991。以下是對該標(biāo)準(zhǔn)的詳細(xì)解讀:

一. GB/T 2423.21-2008的基本情況

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 2423.21-2008

中文名稱:電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓

英文名稱:Environmental testing - Part 2: Test methods - Test M: Low air pressure

替代標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.21-1991

發(fā)布日期:2008-12-30

實施日期:2009-10-01

主管部門: 中國電器工業(yè)協(xié)會

歸口單位:全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

二. GB/T 2423.21-2008適用范圍與目的

目的:用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應(yīng)性。

模擬環(huán)境:主要模擬產(chǎn)品在高海拔地區(qū)(如高原、高山)使用或貯存的條件,或是在飛機貨艙中空運、或通過高海拔地區(qū)進行地面運輸時所經(jīng)歷的環(huán)境。

試驗效應(yīng):低氣壓會對產(chǎn)品產(chǎn)生多種物理和化學(xué)效應(yīng),主要包括:

密封容器變形、破損或破裂:由于內(nèi)外壓差導(dǎo)致。

產(chǎn)品機械操作性能變化:如低壓對潤滑劑的影響。

電氣性能變化:低氣壓會降低空氣的介電強度,可能導(dǎo)致電弧、電暈或放電現(xiàn)象,影響產(chǎn)品的正常工作甚至導(dǎo)致絕緣擊穿。

材料化學(xué)性質(zhì)變化:如揮發(fā)、升華、氧化速率加快等。

因散熱不良導(dǎo)致的過熱:在低氣壓下,空氣對流散熱效率大大降低,可能導(dǎo)致產(chǎn)品溫度升高。

三. GB/T 2423.21-2008試驗嚴(yán)酷等級

試驗的嚴(yán)酷等級主要由「低氣壓值」和「試驗持續(xù)時間」兩個參數(shù)共同決定。

低氣壓值 (kPa):標(biāo)準(zhǔn)中給出了優(yōu)先選用的氣壓等級,對應(yīng)不同的海拔高度。例如:

84 kPa (約等效于海拔1500米)

79.5 kPa (約等效于海拔2000米)

70 kPa (約等效于海拔3000米)

61.5 kPa (約等效于海拔4000米)

54 kPa (約等效于海拔5000米)

... 直至 1 kPa (約等效于海拔31000米以上)

試驗持續(xù)時間:優(yōu)先選用時間為 5 min, 30 min, 2 h, 4 h, 16 h。

相關(guān)規(guī)范(產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn))應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的實際使用環(huán)境來規(guī)定合適的嚴(yán)酷等級(即選擇哪個氣壓值和持續(xù)多長時間)。

四.GB/T 2423.21-2008 試驗程序概述

初始檢測:按相關(guān)規(guī)范要求,對試驗樣品進行外觀檢查及電氣和機械性能的測量。

條件試驗:

將試驗樣品放入試驗箱( chamber),樣品通常處于不包裝、不通電的“準(zhǔn)備使用狀態(tài)”。

以不超過10 kPa/min的速率將氣壓降至規(guī)定值。此規(guī)定是為避免產(chǎn)生不必要的壓力沖擊。

在規(guī)定的低氣壓條件下保持規(guī)定的時間。

持續(xù)時間結(jié)束后,以不超過10 kPa/min的速率將氣壓恢復(fù)至正常大氣壓。

恢復(fù):試驗樣品在試驗標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下恢復(fù)一段時間,以便使樣品達到溫度穩(wěn)定。

最后檢測:按相關(guān)規(guī)范要求對試驗樣品進行外觀檢查及電氣和機械性能的測量。

五. GB/T 2423.21-2008試驗設(shè)備要求

試驗箱應(yīng)能滿足以下要求:

能保持標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的低氣壓值,容差為 ±5%。

具備必要的安全保護措施。

箱壁應(yīng)不會對試驗樣品產(chǎn)生熱輻射效應(yīng),以免影響試驗結(jié)果。

壓力變化速率應(yīng)可控。

六. GB/T 2423.21-2008重要注意事項與標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):請注意,GB/T 2423.21-2008 已被 GB/T 2423.21-2022 《環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗M:低氣壓》所替代。新標(biāo)準(zhǔn)于2022年10月12日發(fā)布,2023年5月1日實施。在實際應(yīng)用中,應(yīng)優(yōu)先采用最新的2022版標(biāo)準(zhǔn)。

試驗選擇:該試驗主要考察低氣壓本身的效應(yīng)。若需綜合考察低氣壓與高溫的共同作用(例如模擬高海拔地區(qū)散熱能力下降同時環(huán)境溫度較高的情況),則應(yīng)采用 GB/T 2423.25-2008《試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗》 或 GB/T 2423.26-2008《試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗》。

安全警示:試驗,尤其是極低氣壓試驗,存在一定風(fēng)險(如玻璃或金屬容器爆裂)。應(yīng)采取充分的安全防護措施,如使用防護罩、在恢復(fù)氣壓時謹(jǐn)慎操作等。

七. GB/T 2423.21-2008應(yīng)用領(lǐng)域

該試驗廣泛應(yīng)用于:

航空航天設(shè)備:用于模擬機載設(shè)備或衛(wèi)星部件在高空極端低壓環(huán)境下的性能。

高原用電子產(chǎn)品:如通信基站設(shè)備、電力設(shè)備等,確保其在低氣壓環(huán)境下能正常工作且絕緣性能達標(biāo)。

汽車電子:用于測試車輛在駛?cè)敫吆０蔚貐^(qū)時其電子元件的可靠性。

各類電子元器件:檢驗其封裝和內(nèi)部結(jié)構(gòu)在壓力變化下的密封性和完整性。

GB/T 2423.21-2008總結(jié)

GB/T 2423.21-2008(及其現(xiàn)行版本GB/T 2423.21-2022)是評估電工電子產(chǎn)品耐低氣壓環(huán)境能力的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)。它通過模擬高海拔或高空運輸環(huán)境,主要考核產(chǎn)品的密封性能、電氣絕緣性能(抗電暈和電弧能力)以及散熱性能。強烈建議在進行相關(guān)測試時,查閱并遵循最新版標(biāo)準(zhǔn) GB/T 2423.21-2022 的規(guī)定。

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